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JP4040 放射性污染检测仪

产品介绍: JB4040型 β、γ检测仪,适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效

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产品介绍

技术参数

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采购指南

产品介绍:

    JB4040型 β、γ检测仪,适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、 核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶 显示,读数清晰、操作方便。

 

仪器特点:

*  GM探测器阵列,探测效率高

*  便携式设计,重量轻

*  单片机控制,软件功能强

*  LCD液晶显示,会话式操作界面

*  计数率显示CPM、CPS、μSv/h

*  电池失效报警


计数范围:1~106

探测器面积:25cm2

灵 敏 度:≥500 CPM/μSv/h

剂量率范围:0.01~200.00µSv/h

仪器本底:每分钟计数≤130 CPM

相对误差:测量范围内相对基本误差≤20%

供电电源:2节1.5v普通5号电池,整机电流≤50mA

温度范围:-10℃~45℃

湿度范围:相对湿度≤90%(40℃)

尺寸重量:0.64kg;23×13×4.5(cm)


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